Microtrac的CAMSIZER XL是一款大型粒径和粒形分析仪，可以测量粒径范围在160至135,000 µm的颗粒。
- 材料的表征测量包括3D与40多种形态学参数
- 非接触式干燥颗粒的测量范围为160 – 135,000微米
- 可定制的样品引入方式
- 高速，高分辨率相机每秒分析100张图像。
- 封闭式光学系统，减少停机维护时间。
性能指标
- 通过具有测量超过40个参数，其中包括15种尺寸，13种形状/形胎，3个的表面粗糙度，密度，透明度和3D的个分析的功能，CamSizer XL为用户提供了可靠的分析能力，使您能够快速，自信地为产品质量作出决策 。
- 行业知名的尺寸范围的分析为用户提供了更大的分析灵活性，可以测量各种材料。
- 高速，高分辨率的像机可确保收集多张清晰的材料图片，从而进行准确的分析。
- CAMSIZER XL专为能够应对最恶劣的环境而设计，适用于任何实验室环境。
- 自动清洁机制令用户花更少的时间来清洁仪器，而将更多的时间用于增加生产。
粒度和粒形分析器 Camsizer XL 典型应用
适用于各种领域，例如: 总量, 建筑材料, 肥料, 食物, 地质 / 矿产, 玻璃珠, ...
水泥
肥料
木屑
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粒度和粒形分析器 CAMSIZER XL 技术参数
| 测量原理 | 动态图像分析（ISO 13322-2和9276-6) |
|---|---|
| 测量范围 | 160 µm - 135 mm |
| 测量参数 | 获得专利的3D测量方法主要遵循ISO 13322-2 |
| 测量速率 | > 100张图像/秒 |
| 尺度系数（微米/像素） | 160 µm / 像素 |
| 相机像素布局 | 2560 x 2048像素，最大分辨率时，每秒可显示62张图像 |
| 光源 | 频闪灯 |
| 电 | 110-230 V / 50-60 Hz |
| 耗电量 | 约<100瓦特 |
| 样品量 | > 2公斤（视应用而定） |
| 测量时间 | 约1-5分钟（取决于应用） |
| 采用材料规格 | 铝金属和不锈钢 |
| 设备尺寸（宽x高x深） | 400 x 1229 x 1693毫米 |
| 重量 | 约70公斤 |
粒度和粒形分析器 CAMSIZER XL 资料下载
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
White Paper: Methodenvergleich Partikelanalyse
Warum liefern verschiedene Messverfahren unterschiedliche Ergebnisse? Partikelcharakterisierung ist in vielen Industrien und Anwendungsbereichen eine gängige Analysenmethode für Pulver, Granulate, Suspensionen und Emulsionen, wobei Größen vom Nanopartikel bis zum Kieselstein vorkommen. Dafür werden verschiedene Technologien und Messgeräte eingesetzt, die jeweils für bestimmte Größenbereiche oder bestimmte Materialeigenschaften optimal einsetzbar sind, wobei sich die Messbereiche teilweise überlappen. Daraus ergibt sich für viele Applikationen die Frage, welche Methode optimal für diese Anwendung geeignet ist, denn der Messbereich des Gerätes allein reicht zur Beantwortung dieser Frage nicht aus. Erschwerend kommt hinzu, dass verschiedene Messverfahren für die gleiche Probe oft unterschiedliche Ergebnisse liefern. Interpretation und Abgleich dieser Unterschiede stellt Anwender oft vor große Herausforderungen. In diesem Whitepaper sollen die gängigen Methoden der Partikelanalyse zunächst vorgestellt und dann miteinander verglichen werden.