对于颗粒的物理表征，Microtrac提供了一系列光学颗粒分析仪。Microtrac是全球唯一的动态图像分析、静态图像分析、激光衍射和筛网分析设备供应商，广泛了解每种方法的优缺点。
| 动态图像粒径和粒形分析 | 光学显微镜 | 筛分仪 (Retsch) |
激光粒度仪 | 动态光散射（DLS） | ||
| 宽泛的动态测量范围 |  |
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| 重现性 | |
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| 窄分布测量的高分辨率 | |
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| 颗粒形态分析 | |
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| 直接测量技术 | |
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| “过大” 颗粒的可靠检测 | |
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| 操作及维护 | |
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| 精确到单个颗粒的分析 | |
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| 高速、短时测量 | |
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| 分析纳米颗粒 | |
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| 分析Zeta电位和分子量 | |
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| 多功能性 | |
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| 测量范围 | 0.8 µm - 135 mm | 0.5 µm – 1.5 mm | 10 µm - 125 mm | 10 nm – 5 mm | 0.8 nm - 6500 nm |
