网络研讨会: 颗粒分析：激光衍射是否足以控制金属粉末的质量

用于添加剂制造的粉末必须达到最高质量标准。Microtrac提供了两种金属粉末的颗粒表征方法:激光衍射(LD)和动态图像分析(DIA)。这两种方法都提供了粒径分布，但只有成像方法也检测颗粒形状，这对粉末的适用性在添加剂制造领域是至关重要的。在本次网络研讨会中，我们将讨论这两种技术，并介绍两种分析仪:一种是结合LD和DIA的SYNC，另一种是纯图像分析设备CAMSIZER X2。 主题：什么是激光衍射，能用它测量什么？图像分析如何改善激光衍射结果?为什么使用像X2这样的专用图像分析设备?应用实例:SYNC和CAMSIZER X2金属粉末的测量。 由Microtrac Retsch GmbH的产品专家Kai Düffels介绍。