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Particle Characterization Methods comparison of the different technologies

该研讨会面向所有在日常实践中处理粉末、颗粒、悬浮液和乳剂表征中广泛问题的人。它应该有助于选择最佳方法和解释分析结果。

该研讨会全面概述了粒度表征的最新技术解决方案和工艺:从纳米颗粒到鹅卵石。该研讨会将理论与实践相结合,重点是比较不同的、已建立的颗粒分析方法。基于许多实际示例,方法的优缺点

  • 数字图像分析
  • 静态激光散射(激光衍射)
  • 动态光散射(DLS)
  • Zeta电位分析
  • 筛分析
制定和比较。

丰富的实践部分让您有机会使用各种测量设备,以便亲自体验所有技术和方法。

您可以找到我们研讨会的最新日期 <链接 3331710 - 内部链接 “在当前窗口中打开内部链接”>这里参加费用为 250 欧元加增值税,包括研讨会文件、出席证书和膳食。

当前没有或合适的预约?我们的<链接3329079 - internal-link “在当前窗口中打开内部链接”>newsletter 将很乐意通知您时事。